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Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結構、孔隙和缺陷。

AFM-SEM 同步聯用技術（通用版）SEM 與 AFM 是亞納米級樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優勢，實現超高效工作流程， 完成傳統 AFM 和 SEM 難以或無法實現的極限性能和復雜樣品分析。

全新發布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢，實現了在同一系統中對樣品進行多模態（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學）關聯分析。

Phenom MAPS 大面積能譜拼接作為一款多模態多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數據集，并直觀地組合和關聯多種成像、分析模式，從而提供多尺度和多模態的表征數據。

飛納電鏡彩色成像技術ChemiSEM，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質量的成分定性定量信息。