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Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于藥用包裝材料檢測中的表面形貌、污染顆粒和材料結構觀察。 Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優于 8 nm，適用于日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用

Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機，可用于高分子材料微區成分分析，幫助觀察填料、顆粒和缺陷區域。 Phenom ProX G7 電子光學放大倍數可達 350,000 X，分辨率優于 6 nm，采用 CeB6 燈絲，并集成掃描電鏡成像與能譜分析能力，適合形貌觀察、微區元素分析和材料研發檢測。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于陶瓷材料斷面觀察，幫助分析晶粒、孔隙、裂紋和斷裂形貌。Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優于 8 nm，適用于日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于光伏材料表面缺陷分析，幫助觀察表面損傷、顆粒和微觀結構。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于電池材料微觀形貌分析，幫助觀察顆粒、孔隙、斷面和表面缺陷。